X-Cite® XP750光功率测量系统

产品概述：
X-Cite®光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率，具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据，不仅可用于实验，还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器，外形小巧别致，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。

为何需要一台X-Cite®光功率测量系统？
为了实现最终的可重复性，X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据，来校准X-Cite® exacte照明器。

产品功能：
小巧的显微镜载玻片尺寸
兼容灯泡，激光和 LED 光源
探测面积高达 – 10mm
无聚焦要求
宽广的波长和功率测量范围
根据NIST/NRC标准进行校对

产品优势：
适合标准的显微镜压片夹，更方便的直接从物镜测光，无需移除或重新配置设备
不仅技术领先，还能适配多种显微镜，更经济
同时适用低倍和高倍物镜
快速精确测量
适合多样化的用途和显微镜配置
测量结果准确，深受用户信任

产品规格：
内含：物体平面功率传感器，配备电缆和连接器，适用于X-Cite® XR2100设备
功率范围：5μW-500mW
测量分辨率：0.01μW-1mW
误差***：±6%
响应时间：600ms（起始），3s（确保稳定显示）
校准：符合NRC** 标准
波长范围：320nm-750nm
灯管类型/光源兼容性：X-Cite® exacte，X-Cite®120系列，汞/HBO，金属卤化物灯，氙灯，LED，激光
物镜兼容性：4X-63X，空气耦合，FOV直径小于10mm
显示：通过X-Cite® XR2100显示
波长选择：使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面，以1nm为度量进行调节
数据容量：经X-Cite® XR2100
PC控制：查看/改变设置，确定波长，记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置，下载/输出存储数据
指令协议：通过X-Cite® XR2100
重量：2.9oz (82g)
尺寸（无盖）：3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)
世界认证：通过 X-Cite® XR2100
质保：一年
专利：X-Cite®光功率测量系统包含的技术受下列专利保护：US#6,437,861; US#7,335,901